ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH DLA WŁAŚCIWOŚCI MIERZALNYCH

Kategoria

BRANŻOWE

Typ szkolenia

otwarte

Profil uczestników

- osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym, - pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych, - osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu, - pracownicy działów jakości / kontroli jakości, - auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949, - osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).

Program

1.  Zdolność systemu pomiarowego: 

• przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru,
• niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji, 
• skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem. 

2.  Opis zdolności systemów pomiarowych. 3.  Definicje i interpretacja:

• niepoprawność wskazań (błąd systematyczny),
• powtarzalność i odtwarzalność (błędy przypadkowe),
• zmienność całkowita a zmienność własna procesu,
• rozdzielczość i rozróżnialność,
• wskaźniki zdolności: Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, ndc,
• liniowość i stabilność systemu pomiarowego.

4.  Ocena zdolności systemów pomiarowych dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem – wymagania.5.  Metodologia badań zdolności systemów pomiarowych za pomocą analizy R&R:

• procedura typu 1,
• procedura typu 2 (pełna – metoda rozstępów i średnich ARM),
• procedura typu 2 (uproszczona – metoda rozstępów RM),
• procedura typu 3.

6. Graficzna prezentacja wyników analizy R&R.
Ćwiczenia:

• analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,
• wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
• ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),
• analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów,
• analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym.

Opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników:

• analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej,
• analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku. 

Uwagi:

• w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,
• w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).

Forma

stacjonarna / online

Czas trwania

2 DNI PO 8 GODZ.

Termin / Lokalizacja

1. 20.05.2024 / Kraków

Cena

2952.00 zł brutto

Zgłoszenie

ANALIZA SYSTEMÓW POMIAROWYCH DLA WŁAŚCIWOŚCI MIERZALNYCH

W cenę wliczono

- udział w szkoleniu, - materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis, - bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych, - certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, - możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, - obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek.

Zdobyta wiedza

W przypadku wykorzystania poznanej metody: istotne zmniejszenie ryzyka wysłania do klienta wyrobu niezgodnego z powodu błędnych decyzji kontrolnych, zmniejszenie ryzyka błędnych decyzji dotyczących stanu procesu (sterowania procesem), zdobycie umiejętności pozwalających na samodzielne prowadzenie analiz R&R oraz dogłębną interpretację wyników nastawioną na planowanie trafnych działań korygujących, poznanie efektywnej, empirycznej metody szacowania niepewności pomiaru, możliwość weryfikacji poprawności doboru środków pomiarowych, szczególnie dla zadań pomiarowych związanych z dużym ryzykiem kosztów niezgodności, zapoznanie się z możliwościami wspomagania komputerowego w zakresie analizy zdolności systemów pomiarowych – możliwość bezpłatnego uzyskania arkuszy obliczeniowych używanych w czasie szkolenia. Analiza zdolności systemów pomiarowych stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, zmienność i tolerancję), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”.

Organizator

TQMsoft - dane teleadresowe firmy prowadzącej szkolenie - kliknij!

1. drukuj

Zadaj pytanie dotyczące szkolenia