Analiza systemów pomiarowych — metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych
Szkolenie jest DOTOWANE z Unii Europejskiej.
- Kategoria
- ZARZĄDZANIE JAKOŚCIĄ
- Typ szkolenia
- otwarte
- Profil uczestników
- • Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym. • Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych. • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC • Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. • Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949. • Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt). • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów. • Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców. • Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości. • Inżynierowie procesu. • Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów. • Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.
- Wymagania wstępne
- Uwagi: • w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza „R&R” dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem, • W przypadku przesłania przez Uczestników nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania – wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych). Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej na odpowiednim przygotowaniu próbek oraz wykorzystaniu analizy wariancji (ANOVA) w celu określenia składników zmienności. W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi (wykrywania nadmiernych błędów) w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.
- Program
- PROGRAM I ĆWICZENIA
• Zdolność systemu pomiarowego.
• Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.
• Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.
• Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.
• Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).
• Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).
• Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).
• Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).
• Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.
• Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.
• Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.
• Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).
• Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.
• Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).
• Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.
• Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).
• Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.
Ćwiczenia:
• Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).
• Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel) w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.
• Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.
• Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).
• Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).
W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.
- Prowadzący
- Trener TQMsoft - specjalista metrolog
- Forma
- otwarta lub zamknięta (na życzenie Klienta)
- Czas trwania
- 3 dni po 7h
- Termin / Lokalizacja
-
- 15.04.2020 / Kraków
- Cena
- 2150 PLN netto/ 1 os
- W cenę wliczono
- Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek oraz możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu.
- Zdobyta wiedza
- KORZYŚCI DLA PRZEDSIĘBIORSTWA: • Możliwość identyfikacji słabych punktów kontrolnych w kontroli dostaw, w toku procesu produkcyjnego oraz w kontroli końcowej, szczególnie dla właściwości (charakterystyk) specjalnych. • Uzyskanie danych do określenia przyczyn nieskutecznej kontroli i ich redukcji, a przez to poprawa jakości dostaw do klienta. • Ocena trafności doboru metod pomiarowych dla sterowania procesem, a przez to redukcja kosztów błędnych interwencji w procesie produkcyjnym. ZASTOSOWANIE: Analiza zdolności systemów pomiarowych (MSA – Measurement System Analysis) stanowi istotne uzupełnienie okresowego sprawdzania / wzorcowania przyrządów. Pozwala ona na ocenę zdatności danego systemu pomiarowego do wykonywania zadania pomiarowego określonego przez: mierzoną właściwość (jej wartość, tolerancję i zmienność w procesie produkcji), umiejętności operatorów, warunki (zakłócenia) zewnętrzne oraz procedurę pomiarową. Wyniki analizy mogą przyczynić się do istotnej redukcji ryzyka reklamacji i kosztów braków dzięki identyfikacji systemów pomiarowych będących źródłem błędnych decyzji o zwolnieniu wyrobu (lub akceptacji procesu). Najczęściej stosowaną i najbardziej uniwersalną metodą oceny zdolności systemów pomiarowych jest analiza „R&R”, która w sytuacji pomiarów „niepowtarzalnych” (np. pomiary twardości, chropowatości, wytrzymałości, momentów dokręceń czy badania niszczące) wymaga modyfikacji polegającej m.in. na odpowiednim przygotowaniu próbek. W zakresie MSA mieści się też monitorowanie długoterminowej stabilności systemów pomiarowych (adoptowanymi z SPC metodami), które w porównaniu z okresowym sprawdzaniem/wzorcowaniem lub okresowo wykonywaną analizą „R&R” zapewniają nieporównanie większą skuteczność wykrywania problemów związanych z systemami pomiarowymi w czasie procesu produkcyjnego lub kontrolnego.
- Certyfikaty
- Certyfikat Uczestnictwa w szkoleniu - TQMsoft