
STATYSTYCZNE STEROWANIE PROCESEM SPC Z ANALIZĄ SYSTEMÓW POMIAROWYCH MSA
- Kategoria
- BRANŻOWE
- Typ szkolenia
- otwarte
- Profil uczestników
- - osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, analitycy, - osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC i MSA w przedsiębiorstwie, - specjaliści ds. jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, - osoby odpowiedzialne za jakość dostawców, pracownicy działów współpracujących z klientem, - członkowie zespołów realizujących projekty doskonalące, analitycy zajmujący się analizą i przetwarzaniem danych, - osoby odpowiedzialne za nadzorowanie systemów / procesów pomiarowych, pracownicy izb pomiarów, szefowie kontroli jakości.
- Program
- 1. Wprowadzenie.
- Znaczenie metod statystycznych, w szczególnoÅ›ci SPC i MSA we wspóÅ‚czesnych systemach zarzÄ…dzania jakoÅ›ciÄ… i innych kulturach organizacyjnych generujÄ…cych jakość (ISO 9001:2015, IATF 16949:2016, Six Sigma.
- Statystyczne narzÄ™dzia jakoÅ›ci – krótka charakterystyka, przeznaczenie, normy, przewodniki (IS0/TR 10017).
- Definicja procesu.
- Zmienność - redukcja zmienności to poprawa jakości.
- Przyczyny przypadkowe i szczególne zmiennoÅ›ci, pojÄ™cie procesu stabilnego (pod kontrolÄ…) i rozregulowanego (poza kontrolÄ…).
- Techniki rejestrowania i analizy zmienności - statystyczna analiza danych.
- Statystyczny opis zmiennoÅ›ci - wyznaczanie i interpretacja parametrów opisowych (Å›rednia, mediana, rozstÄ™p, ruchomy rozstÄ™p, odchylenie standardowe, skoÅ›ność, kurtoza itd.), konstrukcja histogramu (dobór liczby przedziaÅ‚ów), rozkÅ‚ad empiryczny a rozkÅ‚ad teoretyczny, rozkÅ‚ad normalny.
- Przykłady, ćwiczenia.
- Obliczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci procesu wedÅ‚ug strategii podstawowej (Cp, Cpk) oraz wedÅ‚ug ISO/TR 22514-4 (Cp, Cpk, Pp, Ppk).
- Krótka charakterystyka innych strategii oceny zdolnoÅ›ci (AIAG, VDA). Obliczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci maszyny Cm, Cmk (ISO/TR 22514-3).
- Ocena zdolnoÅ›ci procesu/maszyny w przypadku rozkÅ‚adów innych od rozkÅ‚adu normalnego – metoda percentylowa wraz z wykorzystaniem przybliżonej metody rachunkowej Clementsa (ISO/TR 22414-4).
- Zdolność procesu w przypadku oceny alternatywnej.
- Przykłady, ćwiczenia.
- Karty przebiegu procesu a karty kontrolne.
- Karty kontrolne Shewharta.
- Ogólne zasady funkcjonowania kart kontrolnych Shewharta (trzysigmowość karty, metody konstrukcji karty, bÅ‚Ä™dy wnioskowania, dostosowanie karty do procesu).
- Konstrukcja kart kontrolnych Shewarta dla cech mierzalnych (metoda stabilizacyjna tj. na podstawie wstÄ™pnych danych z procesu, metoda projektowa tj. na podstawie warunków jakoÅ›ciowych nakÅ‚adanych na proces) - karta wartoÅ›ci Å›redniej i rozstÄ™pu, karta wartoÅ›ci Å›redniej i odchylenia standardowego, karta mediany i rozstÄ™pu, karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstÄ™pu).
- Obliczanie wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci procesu Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych dla cech mierzalnych.
- Zasady optymalnego doboru karty i jej wykorzystania: dobór licznoÅ›ci próbki, czÄ™stość próbkowania, metody próbkowania, kryteria identyfikacji rozregulowania procesu (zasady czytania kart kontrolnych) - sygnaÅ‚y, trendy, serie, „obklejanie” linii kontrolnych, „obklejanie” linii centralnej, periodyczność, rola i znaczenie linii ostrzegawczych, testy strefowe itp. – wedÅ‚ug PN-ISO 8258+AC1, PN-ISO 7870, itd.).
- Karty kontrolne w przypadku oceny atrybutowej: frakcji jednostek niezgodnych p, liczby jednostek niezgodnych np, liczby niezgodności c, liczby niezgodności na jednostkę u.
- Przykłady, ćwiczenia.
- Pomiar, błąd/niepewność pomiaru, system pomiarowy, proces pomiarowy.
- Zmienność w przypadku procesu pomiarowego od przyrządu pomiarowego (EV), od operatora (AV), od procesu tj. od części-do-części (PV), zmienność całkowita (TV).
- Objaśnienie pojęć.
- Rozróżnialność – dyskryminacja, bÅ‚Ä…d skali, rozróżnialność statystyczna (liczba rozróżnialnych kategorii ndc).
- Poprawność - błąd systematyczny, liniowość, stabilność.
- Precyzja - odtwarzalność, powtarzalność, interakcja.
- Krzywa operacyjno-charakterystyczna systemu pomiarowego.
- Kryteria oceny zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
7. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na poprawność.
- Metody ocena błędu systematycznego, liniowości, stabilności.
- Przykłady, ćwiczenia.
8. MSA. Kwalifikacja systemu pomiarowego ze względu na precyzję.
- Metody oceny powtarzalnoÅ›ci i odtwarzalnoÅ›ci: metoda rozstÄ™pu R metodÄ… Å›redniej i rozstÄ™pu ARM, metoda analizy wariancji (ANOVA) – możliwy/niemożliwy wielokrotny pomiar na jednej części.
- Zdolność systemów pomiarowych, wyznaczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników Cg, Cgk.
- Krótkie uwagi na temat budżetu niepewnoÅ›ci.
- Przykłady, ćwiczenia.
9. MSA. Kwalifikacja w przypadku oceny alternatywnej (atrybutowej).
- Ocena zdatnoÅ›ci systemów pomiarowych w przypadku oceny alternatywnej - kryteria.
- Metody kwalifikacji systemu pomiarowego: metoda krótka, metoda dÅ‚uga, metoda analityczna, metoda analizy sygnaÅ‚ów.
- Metoda dÅ‚uga (R&R dla atrybutów) – skuteczność (effectiveness), przeoczenie (miss), faÅ‚szywy alarm (false alarm).
- Zgodność ocen: operator/operator, operator/wzorzec - wyznaczanie i interpretacja wspóÅ‚czynnika kappa Cohena.
- Przykłady, ćwiczenia.
10. Podsumowanie.
Ćwiczenia:
11. SPC, MSA w Internecie.- Statystyczna analiza zbioru danych, wyznaczanie podstawowych parametrów opisowych, interpretacja wyników przeprowadzonych analiz (histogram, reguÅ‚a trzech odchyleÅ„ standardowych).
- Weryfikacja normalnoÅ›ci – graficzny test normalnoÅ›ci, przeprowadzenie/interpretacja, inne prostsze sposoby identyfikacji rozkÅ‚adu normalnego: ksztaÅ‚t histogramu, parametry ksztaÅ‚tu tj. skoÅ›ność i kurtoza.
- Wyznaczanie empirycznej (na podstawie danych) i spodziewanej (na podstawie rozkładu teoretycznego) frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji.
- Obliczanie i interpretacji wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci procesu Cp, Cpk – strategia podstawowa.
- Obliczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci procesu Cp, Cpk, Pp, Ppk – strategia wedÅ‚ug ISO/TR 22514-4.
- Obliczanie i interpretacji wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci maszyny Cm, Cmk.
- Obliczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci w przypadku rozkÅ‚adów innych od normalnego – metoda percentylowa.
- Konstrukcja kart kontrolnych wartoÅ›ci Å›redniej i rozstÄ™pu oraz pojedynczych wartoÅ›ci i ruchomego rozstÄ™pu – metoda stabilizacyjna, metoda projektowa.
- Wyznaczanie wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci Cp, Cpk na podstawie kart kontrolnych skonstruowanych metodÄ… stabilizacyjnÄ….
- Interpretacja zachowania siÄ™ procesu ze wzglÄ™du na zmienność – „czytanie” kart kontrolnych (reguÅ‚y wg ISO 7870 i inne).
- Konstrukcja i interpretacja kart kontrolnych według oceny alternatywnej: karty p, np, c, u.
- Wyznaczanie powtarzalnoÅ›ci i odtwarzalnoÅ›ci systemu pomiarowego metodÄ… rozstÄ™pu R – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
- Wyznaczanie powtarzalnoÅ›ci i odtwarzalnoÅ›ci systemu pomiarowego metodÄ… Å›redniej i rozstÄ™pu ARM – kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
- Interpretacja wyników oceny powtarzalnoÅ›ci i odtwarzalnoÅ›ci metodÄ… analizy wariancji ANOVA - kwalifikacja systemu pomiarowego do nadzorowania procesu/produktu.
- Porównanie metod ARM oraz ANOVA.
- Wyznaczanie i interpretacja wspóÅ‚czynników zdolnoÅ›ci systemu pomiarowego Cg, Cgk, ocena istotnoÅ›ci statystycznej bÅ‚Ä™du systematycznego (bias).
- Ocena systemu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – metoda dÅ‚uga, wyznaczenia i interpretacja skutecznoÅ›ci (zgodność wÅ‚asna operatorów, zgodność pomiÄ™dzy operatorami, zgodność ze wzorcem, faÅ‚szywe alarmy, omyÅ‚ki).
- Wyznaczanie i interpretacja wspóÅ‚czynnika kappa Cohena.
- Forma
- stacjonarna / online
- Czas trwania
- 3 DNI PO 6 GODZ.
- Lokalizacja
- Cena
- 3628.50 zł brutto
- W cenÄ™ wliczono
- - udział w szkoleniu, - materiały w formie papierowej, segregator, notatnik, długopis, - bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych, - certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, - możliwość bezpłatnych 3-miesięcznych konsultacji po szkoleniu, - obiady, przerwy kawowe oraz słodki poczęstunek.
- Zdobyta wiedza
- Uczestnik nauczy się: - Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie narzędzi SPC i MSA. - W jaki sposób dokonuje się statystycznej analizy danych pochodzących z procesu. - Jakie warunki muszą być spełnione żeby w sposób właściwy stosować i wykorzystać metody SPC i MSA. - Praktycznego posługiwania się narzędziami SPC i MSA – dobór narzędzi, zasady rachunkowe i interpretacyjne. - Jakie korzyści dostarcza stosowanie SPC i MSA – odniesienie do właściciela procesu, odniesienie do klienta. Uczestnik dowie się: - Jakie są wymagania odnośnie stosowania metod SPC i MSA w kontekście współcześnie stosowanych formalnych oczekiwań – normy serii ISO 9000 (w szczególności ISO 9001:2015), normatywy branżowe (IATF 16949:2016), Six Sigma. - Jakie normy ISO i inne dokumenty określają rachunkowy i interpretacyjny sposób wykorzystania narzędzi SPC i MSA. - Kiedy, gdzie, przy spełnieniu jakich warunków, wykorzystywać określone narzędzia SPC i MSA. - Na co zwracać szczególną uwagę w analizie danych procesowych i kwalifikacji systemów pomiarowych. Celem metod SPC jest przede wszystkim zapobieganie niezgodnościom poprzez odpowiednio wczesne wykrywanie destabilizacji procesu i przywracanie mu stanu stabilnego zanim powstanie niezgodność. Metodologia SPC nadaje się zarówno do monitorowania procesów produkcyjnych, jak i do nadzorowania procesów pomiarowych (np. dla kontroli jakości). Z sukcesem stosowana jest także dla procesów nieprodukcyjnych (np. usługowych). Podstawowym narzędziem SPC są karty kontrolne służące do graficznego śledzenia stabilności procesu na podstawie pobieranych okresowo mało licznych próbek. W ramach SPC ocenia się także zdolność procesu do spełniania stawianych mu wymagań. Do popularniejszych wskaźników zdolności procesu produkcyjnego należą: Cp, Cpk, Pp, Ppk; dla procesu (systemu) pomiarowego ich odpowiednikami są m.in. Cg, Cgk.